Microsemi（并购了Symmetricom公司）公司开发了直接数字相位噪声测量技术，这项技术已经扩展到一个测试探头。精确的相噪和阿伦方差测量成本显著降低。
Microsemi（并购了Symmetricom公司）的3120A是一款高性能的测试探头，可以测量射频源端口和双端口设备的振幅、相位和频率的稳定（频率：0.5MHz—30MHz）。
3120A的测试内容如下：
- 实时“带状图”相和具有亚皮秒（PS）精度和频率的差异
- 绝对频率计数为：13+位每秒，最大17位（升级选项）)
- 阿伦方差(ADEV)通常小于1E-13（t=1s）
- 改进的阿伦方差（MDEV）方面，哈德曼方差(HDEV)，时间偏差（TDEV）。（升级选项）
- RMS集成的相噪和相噪偏移量为：
- 1Hz—100kHz，水平低于-170dBc/Hz(升级选项)
- AM噪声偏移量为：1Hz—100kHz，<-170dBc/Hz(升级选项)
- RMS集成的抖动时间小于100fs，残余抖动为：1Hz—100kHz（升级选项）
3120A需要一台PC主机和用户提供的外部参考振荡器。几乎所有方面的测量性能的准确度、重复性、本底噪声和杂散响应都依赖于能够提供最好的参考信号，如：采用一个独立的低噪声OCXO以进行相位噪声和调幅噪声测量等。
