高精度，高性价比的即时测量
5120A——全数字化、高性能相噪与阿伦方差分析仪，实现精确的相位噪声和阿伦方差测量功能的同时，简化操作并节约成本。传统模拟分析仪器需要外部锁相环，致使此类测量仪器复杂、昂贵。相比传统仪器，创新的5120A相位噪声仪只要点击一下按钮，就能快速、准确地测量SSB相位噪声和阿伦方差。
全数字化的5120A简化了复杂的操作配置和校准步骤：用户只需直接连接被测器件(DUT)和参考信号,不要求参考源频率必须与DUT同频，再按下5120A的绿色“Start”键，高分辨率屏上就会显示精准的测量数据。
5120A是Microsemi（并购了Symmetricom公司）融合了业界标准阿伦方差测量设备：5110A，所开发的新一代产品。除了优异的阿伦方差测量能力， 5120A还提供相位噪声测量，其精度达到±1.0 dB（以前不可能达到的级别）。结合准确的相位噪声和阿伦方差测量底噪，5120A能更精准地测量最低相噪。
Microsemi（并购了Symmetricom公司）精通于相位噪声、阿伦方差测量技术，善于应用高速低噪声模数转换技术的优点，从而结合多种测量工具，集成为单机解决方案。使5120A 在进行更精准的测量同时，仍可维持较低的成本。
用户可根据需要添加5120A内部基准振荡器，这单机解决方案（即5120A-01）节省寻找和校准外部参考源的时间，只要连接DUT至5120A-01，即可开始精确的测量。
5120A取代过去的复杂，昂贵的测量仪器，让测量变得更加快捷、简便、精准、经济。
主要特性/优点:
- 同时测量相噪和阿伦方差
- 1 - 30 MHz频率范围
- 即时显示测量结果: 无需外部数据处理
- 领先的工业级精度(±1.0 dB)
- 实现不同频率间的测量
- 阿伦方差测量（超过300天）
- 相位噪声测量接近载波处的0.1 mHz
- 无需测量校准，节省测试时间
- 实时显示测量结果
- 供用户选配：内部参考振荡器
- 最佳性价比解决方案
- 直观的远程网络管理和数据获取
- 易于操作的图形用户界面
- 相位噪声测试低至-175 dBc/Hz
品质源于传承
5120A是Microsemi（并购了Symmetricom公司）在NIST和民用产业超过20年的研究探索的智慧结晶。5120A多功能测试仪结合了业界标准级阿伦方差测试仪：5110A的优势，具有业内最高水准的相位噪声测量能力。
卓越的准确度
由于5120A的数字相位侦测器，5120A 成为最精准的工业测量仪器。 NIST曾校准一台5120A样机，并证实其准度高达±1.0 dB，是业界最高准确度。5120A的阿伦方差测量也是工业级的领航者： <3E-15@1秒。
超宽范围的测量能力
5120A支持最大范围的相位噪声和阿伦方差测量，适用于任何商业上产品。第一步通过把DUT和参考源信号转换数字信号，5120A采用独有专利的全数字化设计，测量时无需进行载波抑制，因此，能在最小频偏下(<0.1 mHz)测量相位噪声。
同时，这项技术使5120A能够连续300天以上进行阿伦方差测量。这些技术上的优势，让客户可以比以往更好地定性其高性能频率源的水平。
先进的杂散检测技术
5120A配备完善的运算法则，实时地检测和标识杂波。通过匹配滤波器，用窗口函数的傅立叶转换，比较杂散信号响应的波形，检测杂波，并在显示屏上用红色标识，如上图5120A相位噪声显示屏截图。值得信赖的专业杂散检测技术，让你更加快捷、方便地进行测量。
操作简便
Microsemi（并购了Symmetricom公司） 结合广泛的相噪和阿伦方差测量的专业知识，创造了一机式解决方案，具有直观、简单明了的GUI。5120A自身即可完成配置及校准功能，因此无需专业技师观察检测，也能非常精确地完成测量任务，节省人力资源。如上图所示5120A-01的电路连线，将DUT信号连接至“Input”端口，之后按下绿色“Start”键，5120A将自动启动测量工作。
参考源和被测设备无需同一频点
相较传统测量系统，5120A不要求参考源的频率必须与DUT频率相同，要实现这项优势，5120A需合成两个输入频率转换成带宽。
5120A的相位探测器拥有无限的带宽范围，无需锁相两个输入。这意味着，只要有一个低噪参考源，就能实现任何被测频率下的精密测量。
多种输出选择
5120A满足打印或进一步的数据分析的应用需求。5120A只需连接兼容PostScript语言的打印机，设定好打印机，然后按下5120A上的‘Print’按钮，就能直接打印5120A的测量数据。 还可以通过以太网连接口输出测量数据到远程计算机，这些数据可导入Stable32等行业标准软件进行频率稳定性分析。
无外部参考源的精密测量
有了可选配的高性能内部参考振荡器，5120A让相位噪声测量变得更加容易， 该设备采用抵消两个内部振荡器通道间互相关噪声的方法，使其能在两个通道底噪下进行有效地测量。5120A-01可实现低至-168 dBc/Hz的精密测量，与具有相同性能参数并有外部参考振荡器的相噪测试仪相比，成本大幅降低。不再需要花费大量的时间去寻找、校准外部参考源，现在即可完全依赖于5120A-01。
全数字测试装置的优势
5120A是结合尖端定时技术，并采用Microsemi（并购了Symmetricom公司）公司专利相位测量算法的先进测量设备。如上图所示（5120A 结构框图），待测源和参考源信号进入5120A，立即被模数转换电路转换成数字信号，这使5120A在无外部锁相环的情况下，仍能进行精准的测量，无需校准测量。另外，全数字化设备5120A不要求参考源频率必须和DUT同频。
交叉相关技术
5120A 结构框图中并行的上行和下行通路，说明了该设备的互相关技术。在并行同步测量之后，5120A相交互两通路离散傅立叶变换，以评估输入设备的噪声，同时抑制两个测量子系统的独立噪声。从而实现最终测量结果比单通道设备更加接入底噪，更加精准。
